[发明专利]集成电路测试中的测试数据压缩方法有效
| 申请号： | 201010262928.9 | 申请日： | 2010-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN101968528A | 公开（公告）日： | 2011-02-09 |
| 发明（设计）人： | 詹文法;马俊;石冰;韩建华;孙秀芳 | 申请（专利权）人： | 詹文法 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 246000 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路测试中的测试数据压缩方法，采用存储原始测试数据的规律，测试应用时，再将该规律还原得到所要的原始测试数据。即将整个原始测试数据的存储变换成对一个或若干个对应的无理数来存储。具体步骤为：采用自动测试模式生成工具生成确定的完全测试集，记为测试向量集；将所有测试向量级联；无关位填充；统计游程长度；转化为小数；转化为无理数。本发明的优点在于：通过将整个测试集编码的存储转化为对编码规律的存储，从理论上可以无限压缩测试数据，可以从根本上解决测试数据的存储问题。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 中的 数据压缩 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试中的测试数据压缩方法，其特征在于：采用存储原始测试数据的规律，测试应用时，再将该规律还原得到所要的原始测试数据。
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