[发明专利]测试完整性控制系统及方法有效
| 申请号： | 201010263716.2 | 申请日： | 2010-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN102375769A | 公开（公告）日： | 2012-03-14 |
| 发明（设计）人： | 唐新桥;钟阳 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种测试完整性控制系统，运行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，所述主板管理控制器包括FRU存储区，该系统包括：构建模块，用于构建电子设备的测试控制数据并写入所述FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位；测试模块，用于根据测试控制数据逐一选择电子设备的测试项进行测试，若选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；比较模块，用于在所有的测试项测试完毕后将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较；及输出模块，用于根据比较结果输出电子设备测试的测试结果。本发明还提供一种测试完整性控制方法。本发明能够加强测试流程的完整性。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 完整性 控制系统 方法 | ||
【主权项】：
一种测试完整性控制系统，运行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，用于对电子设备的测试流程进行控制，所述主板管理控制器包括FRU存储区，其特征在于，该系统包括：构建模块，用于构建电子设备的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入所述FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位，每个测试位对应于电子设备的一个测试项；测试模块，用于从FRU存储区读取测试控制数据并根据测试控制数据逐一选择电子设备的测试项进行测试，对于每一个选择的测试项，判断该选择的测试项是否测试成功，若该选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；比较模块，用于在所有的测试项测试完毕后将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同；及输出模块，用于在测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同时，输出电子设备测试通过的测试结果；所述输出模块，还用于在测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，或者选择的测试项测试失败时，输出电子设备测试未通过的测试结果。
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