[发明专利]一种适用于干涉式光纤陀螺的检测电路系统误差的开环测试方法有效

专利信息
申请号: 201010271577.8 申请日: 2010-09-03
公开(公告)号: CN101975584A 公开(公告)日: 2011-02-16
发明(设计)人: 金靖;林松;潘雄;宋凝芳 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 李有浩
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种适用于干涉式光纤陀螺的检测电路系统误差的开环测试方法,本测试方法采用数字式逐点平均扫描的方法恢复其原始波形,将调制串扰信号经过前置滤波电路放大,A/D转换器转换成数字干扰信号后,进入中心处理器中进行处理并传送到信息融合计算,计算结果通过D/A转换器转换成模拟信号后输出,即为恢复出的干扰原始波形。此种测量方法能够有效地测量干涉式光纤陀螺内部的周期性串扰信号。
搜索关键词: 一种 适用于 干涉 光纤 陀螺 检测 电路 系统误差 开环 测试 方法
【主权项】:
一种适用于干涉式光纤陀螺的检测电路系统误差的开环测试方法,所述检测电路包括有前放滤波电路(61)、A/D转换器(62)、中心处理器(63)、D/A转换器(64)、放大调理电路(65)和晶振电路(66);前放滤波电路(61)对光电探测器(5)输出的光功率信号f1进行滤波放大处理,然后滤波放大后的光功率信号经A/D转换器(62)后形成调制串扰信号f2输出给中心处理器(63);其特征在于包括有下列处理步骤:第一步:采样时序控制单元控制时钟信息t来获得调制串扰信号f2进行数字式逐点平均扫描的采样时间点t0;第二步:在采样时间点t0上,对调制串扰信号f2在一个干扰信号的周期T内均匀采样M次,并将采样值xij储存在相应的采样寄存单元中;所述采样值xij中i表示循环次数,i=1,2,...N,N表示设定的最大循环次数;所述采样值xij中j表示采样次数,j=1,2,...M,M表示设定的最大采样次数;第三步:多路选择单元依据顺时方式对采样寄存单元A、采样寄存单元B至采样寄存单元M中的采样值进行通道选通;第四步:移位累加存取单元对接收到的采样寄存单元A中的采样值进行移位累加处理,得到第一个累加和;移位累加存取单元对接收到的采样寄存单元B中的采样值进行移位累加处理,得到第二个累加和;移位累加存取单元对接收到的采样寄存单元M中的采样值进行移位累加处理,得到第M个累加和;第五步:累加和平均单元对接收的第一个累加和进行平均处理,得到第一个采样平均值;累加和平均单元对接收的第二个累加和进行平均处理,得到第二个采样平均值;累加和平均单元对接收的第M个累加和进行平均处理,得到第M个采样平均值;第六步:将第一个采样平均值、第二个采样平均值、……、第M个采样平均值进行时间‑电压的拟和,得到恢复后的串扰噪声。
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