[发明专利]一种PROM的测试系统有效
| 申请号： | 201010272029.7 | 申请日： | 2010-09-03 |
| 公开（公告）号： | CN101944392A | 公开（公告）日： | 2011-01-12 |
| 发明（设计）人： | 谭文堂;刘云龙;李洛宇;练奕龙;徐建强;周锦;刘芳芳 | 申请（专利权）人： | 深圳市国微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于测试技术领域，提供了一种PROM的测试系统，包括电源、第一逆变电路、第二逆变电路、第三逆变电路、第一开关电路、第二开关电路、第三开关电路、待测PROM、微控制单元MCU，系统还包括：与微控制单元MCU连接，用于将微控制单元MCU输出的数字电压值转换成模拟电压值的数模转换电路DAC。本发明，通过MCU输出的电压值调节第一逆变电路、第二逆变电路和第三逆变电路输出的电压值至符合PROM测试条件的电压值，可进行单元耐压测试、灵敏放大器和未编程单元漏电测试、最大和最小工作电压下稳定性检测和可编程余量测试，通过不同的测试，可以筛选出PROM的次品，能极大提高公司产品品质，改善PROM芯片性能。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 prom 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种PROM的测试系统，包括电源、与所述电源连接的第一逆变电路、第二逆变电路和第三逆变电路、与所述第一逆变电路连接的第一开关电路、与所述第二逆变电路连接的第二开关电路、与所述第三逆变电路连接的第三开关电路、与所述第一开关电路、第二开关电路和第三开关电路的输出端连接的待测PROM、与所述待测PROM连接的微控制单元MCU，其特征在于，所述系统还包括：与所述微控制单元MCU连接，用于将所述微控制单元MCU输出的数字电压值转换成模拟电压值的数模转换电路DAC。
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