[发明专利]用于测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置

摘要

一种用于测试TD-LTE终端射频性能的方法和装置，方法步骤为，综合测试仪设置好终端入网所需的系统参数，将终端与综合测试仪进行射频连接；终端进行开机入网流程；在建立专用无线承载的信令流程中配置终端进行上行半持续调度指定终端在固定的上行子帧上传输上行PUSCH信号；综合测试仪采集并分析该PUSCH信号的射频性能。该装置包括主控单元、系统模拟器、射频处理单元和功率分配单元，射频处理单元具有射频发射单元、射频接收单元和本振单元。本发明使得综合测试仪可对终端进行射频性能测试。

主权项

一种用于测试TD‑LTE终端射频性能的方法，其特征在于它包括如下步骤：1)打开TD‑LTE终端综合测试仪的电源并按照3GPP协议关于TD‑LTE终端射频测试规范的参数要求，设置好TD‑LTE终端入网所需的系统参数；将TD‑LTE终端与TD‑LTE终端综合测试仪进行射频连接，给TD‑LTE终端上电；2)TD‑LTE终端进行开机入网信令流程；3)通过TD‑LTE终端综合测试仪寻呼TD‑LTE终端建立专用的无线承载或通过TD‑LTE终端向TD‑LTE终端综合测试仪发起连接建立请求并建立专用的无线承载；在建立专用的无线承载的信令流程中设置连接建立信令中的半静态调度参数，对TD‑LTE终端进行半静态调度；指定TD‑LTE终端在固定的上行子帧上传输上行PUSCH信号；4)TD‑LTE终端综合测试仪采集TD‑LTE终端的上行PUSCH信号，再将此采集的上行PUSCH信号传输给TD‑LTE终端综合测试仪的信号处理模块计算得到TD‑LTE终端的射频性能指标。