[发明专利]LED测试无效

专利信息
申请号: 201010275303.6 申请日: 2010-09-06
公开(公告)号: CN102012488A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 帕斯卡尔·贝思肯;菲特·恩古耶恩霍安;拉杜·苏尔代亚努 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: G01R31/44 分类号: G01R31/44
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明提供了一种确定LED的老化特性的方法,包括向LED施加电流应力脉冲。监测LED以确定由电流应力脉冲引起的发热何时已经消散至期望水平。然后在施加下一应力脉冲之前测量LED的工作特性。该方法以可再现的方式加速老化效应,从而能够极大地减小可靠性测试所需要的时间。
搜索关键词: led 测试
【主权项】:
一种确定发光二极管LED的老化特性的方法,包括:(i)向LED施加(46)电流应力脉冲;(ii)在电流应力脉冲之后,监测(48)LED以确定由电流应力脉冲所引起的发热何时已经消散至期望水平;(iii)在发热已经消散至期望水平之后,测量(50,52)LED的工作特性;以及(iv)重复步骤(i)至(iii),直到确定完成。
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