[发明专利]LED测试无效
申请号: | 201010275303.6 | 申请日: | 2010-09-06 |
公开(公告)号: | CN102012488A | 公开(公告)日: | 2011-04-13 |
发明(设计)人: | 帕斯卡尔·贝思肯;菲特·恩古耶恩霍安;拉杜·苏尔代亚努 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/44 | 分类号: | G01R31/44 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王波波 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明提供了一种确定LED的老化特性的方法,包括向LED施加电流应力脉冲。监测LED以确定由电流应力脉冲引起的发热何时已经消散至期望水平。然后在施加下一应力脉冲之前测量LED的工作特性。该方法以可再现的方式加速老化效应,从而能够极大地减小可靠性测试所需要的时间。 | ||
搜索关键词: | led 测试 | ||
【主权项】:
一种确定发光二极管LED的老化特性的方法,包括:(i)向LED施加(46)电流应力脉冲;(ii)在电流应力脉冲之后,监测(48)LED以确定由电流应力脉冲所引起的发热何时已经消散至期望水平;(iii)在发热已经消散至期望水平之后,测量(50,52)LED的工作特性;以及(iv)重复步骤(i)至(iii),直到确定完成。
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