[发明专利]基于三点微平面式法向检测方法无效

专利信息
申请号: 201010281290.3 申请日: 2010-09-14
公开(公告)号: CN101957175A 公开(公告)日: 2011-01-26
发明(设计)人: 刘志刚;张欢;陶龙 申请(专利权)人: 西安交通大学;西安瑞特快速制造工程研究有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 陆万寿
地址: 710049*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于三点微平面法向检测方法,基于微分几何思想——微平面近似代替微曲面法,并应用激光位移传感器技术及数据采集技术,通过一定的算法可以测得曲面上待测点的法向量。相关参数的标定方法是:首先建立一个测量空间,然后在该空间中拟定一球面并建立球面方程,将传感器安装好后在球面上采集若干数据点,这些数据点必然满足该球面方程,从而可得出若干个含参数的方程,再应用fminsearch最小优化方法求解方程组,便可解出各参数。本发明不仅能够进行非接触式测量,而且测量精度高、测量方便、快捷,可应用于法向误差校正、法向姿态调整、法向检测等测量领域。
搜索关键词: 基于 三点微 平面 检测 方法
【主权项】:
一种基于三点微平面法向检测方法,其特征在于:按如下步骤进行:1)建立模型:将3个激光位移传感器环形均布于三坐标测量机的头部,传感器的空间姿态能使激光成锥形射在曲面上,根据精度要求调整锥度来控制3个激光点所形成的微平面大小;2)建立空间坐标系:首先,用三坐标测量机建立一个世界坐标系1;然后选用三坐标测量机末端关节坐标系作为中间转换坐标系2;另外在每个激光位移传感器上建立一个以激光线射出方向为z轴负向、以激光位移传感器工作参考点为坐标原点的局部坐标系3;3)采集数据:利用数据采集卡和LabVIEW软件采集激光位移传感器电压信号并转换为位移值Li;4)计算激光点的坐标:利用激光位移传感器测得的位移即可知道激光点在局部坐标系3下的坐标(0,0,wi),wi=‑Li,根据欧拉坐标转换公式,分别求得3个激光点在坐标系1下的坐标,坐标转换公式如下: P i = R 0 * R i * 0 0 w i 1 i=1,2,3 R i = R z 1 * R x 2 + T i = 1 0 0 0 0 cos ( r z 1 ) sin ( r z 1 ) 0 0 - sin ( r z 1 ) cos ( r z 1 ) 0 0 0 0 1 * cos ( r x 2 ) sin ( r x 2 ) 0 0 - sin ( r x 2 ) cos ( r x 2 ) 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1 + 0 0 0 a i 0 0 0 b i 0 0 0 c i 0 0 0 0 式中Pi表示激光点的坐标;R0是三坐标测量机末端位姿,从三坐标测量机软件中获取;Ri是局部坐标系3相对于中间转换坐标系2的齐次变换矩阵,其中rz1,rx2分别是坐标系3绕坐标系2的z轴,x轴旋转角度,(ai,bi,ci)是坐标系3对坐标系2的平移向量,在对rz1、rx2、(ai,bi,ci)进行标定;5)计算法向量:用步骤4)求得的3个激光点坐标可以解出3个向量,再将其中任意2个向量叉乘即可得三点微平面法向量,公式如下: P 2 P 1 = ( P x 1 - P x 2 , P y 1 - P y 2 , P z 1 - P z 2 ) P 2 P 3 = ( P x 3 - P x 2 , P y 3 - P y 2 , P z 3 - P z 2 ) N = P 2 P 1 × P 2 P 3 计算得到的法向量应用于法向误差校正、法向姿态调整、法向检测。
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