[发明专利]一种钼粉形貌定量化表征的方法

摘要

本发明公开了一种钼粉形貌定量化表征的方法，包括以下步骤：一、取样；二、样品分散：对装在分散腔顶部的钼粉样品，经压缩空气瞬间分散、自由沉降至底部平板载玻片上进行分散；三、样品静置；四、划定测量区；五、图像采集及同步上传；六、钼粉形貌参数分析及同步显示，其参数分析过程如下：图像预处理、钼粉颗粒边界线提取和根据所提取钼粉颗粒边界线对钼粉颗粒的等效圆直径及圆度参数进行计算及存储，并相应制作出钼粉颗粒的体积分布图和圆度分布图。本发明设计合理、实现方便、投入成本低且误差小、实用价值高，能有效解决现有钼粉检测方法不能对钼粉微观结构对整体钼粉品质的影响进行分析的实际问题，有效提高后续钼制品的成品率。

主权项

1.一种钼粉形貌定量化表征的方法，其特征在于该方法包括以下步骤：步骤一、取样：称量0.1～0.6g被检测钼粉，所述被检测钼粉的费氏粒度为2.0μm～6.0μm且其松装比重为0.8g/cm³～1.6g/cm³；将所称量的钼粉样品放入一个密闭分散腔内侧顶部所布设在锡纸上，所述密闭样品腔上部布设有一个与高压气源相接的气压管道且所述气压管道与所述密闭样品腔的内部相通，所述气压管道的出气口位于所述锡纸上方；步骤二、样品分散：通过所述气压管道向所述密闭样品腔内通入高压气流，且高压气流对位于所述密闭分散腔顶部的钼粉进行分散，所述高压气流的压力为4～7bar，且待所述密闭分散腔顶部的钼粉均被所述高压气流分散且自由落体至布设于所述密闭分散腔底部的平板载玻片上后，样品分散过程结束；步骤三、样品静置：样品分散结束后，关闭所述气源的控制阀门，并将所述密闭样品腔整体静置2～5分钟；步骤四、划定测量区：将所述平板载玻片自所述密闭样品腔内取出，且取出过程中应始终保持所述平板载玻片处于水平状态以防止所述平板载玻片上的钼粉位置发生变动；再在所述平板载玻片上划定多个测量区，多个所述测量区内所包括钼粉颗粒的总数量n为5万～8万个；步骤五、图像采集及同步上传：采用粒形分析仪分别对多个所述测量区的钼粉分布图像进行摄取，并将所摄取的多个钼粉分布图像同步上传至数据处理器；步骤六、钼粉形貌参数分析及同步显示，其参数分析过程如下：601、图像预处理：将多个所述钼粉分布图像经去噪和滤波处理后，转化为对应的多个二灰度图像；602、钼粉颗粒边界线提取：分别提取多个所述二灰度图像中黑色图像区域和白色图像区域的封闭交界线并进行标示，所标示出的所述封闭边界线为钼粉颗粒边界线，且多个所述二灰度图像中所提取出的钼粉颗粒边界线的总数量为n；603、钼粉颗粒的等效圆直径及圆度参数计算及存储，其参数计算及存储过程如下：6031、结合步骤五中所述粒形分析仪摄取所述钼粉分布图像的比例尺，调用数据测量模块对n个钼粉颗粒边界线的实际周长c_i和内部实际面积S_i进行测量计算，且任一个钼粉颗粒边界线对应一个由c_i和S_i组成的实测参数组；测量计算的同时，将与n个钼粉颗粒边界线对应的n个实测参数组均同步存入与所述数据处理器相接的存储单元内；其中，i＝1、2、3…n；6032、调用参数计算模块且按照公式计算得出n个钼粉颗粒边界线的等效圆直径d_i，并将计算得出的n个参数d_i同步存入所述存储单元内；6033、体积分布图制作及同步显示：调用数值比较模块对存入所述存储单元内的n个参数d_i由小至大进行排列，并将n个钼粉颗粒按照等效直径划分为多个等效直径分布区间，且调用参数计算模块计算得出各等效直径分布区间内所包括钼粉颗粒的总体积占n个钼粉颗粒总体积的体积百分比；再调用统计模块以等效直径分布区间为横坐标且以各等效直径分布区间内所包括钼粉颗粒的总体积占n个钼粉颗粒总体积的体积百分比为纵坐标，制作钼粉颗粒的体积分布图；同时，通过与所述数据处理器相接显示器对所制作出的钼粉颗粒的体积分布图进行同步显示；步骤6033中对所述显示器所显示钼粉颗粒的体积分布图进行分析，并相应对所检测钼粉所处批次钼粉的粒度分布进行判断，当体积百分比T_j在等效直径为30μm～80μm的区间范围内出现最大值时，则需对被检测钼粉的圆度参数进行分析，否则不需进行圆度参数分析。