[发明专利]一种RFID高频芯片四通道测试装置及方法无效

专利信息
申请号: 201010281776.7 申请日: 2010-09-15
公开(公告)号: CN102401873A 公开(公告)日: 2012-04-04
发明(设计)人: 庄雪亚;王林忠;杨光 申请(专利权)人: 江苏凯路威电子有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G06K7/00;G08C19/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 王敏杰
地址: 214431 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种RFID高频芯片四通道测试装置及方法,其中装置至少包括:一探针台,包括一运动平台与一探针卡,运动平台承载待测晶圆,用于提供X-Y-Z三轴方向的定向移动,晶圆上规则分布有多片待测RFID高频芯片,探针卡上的探针在测试时和芯片接触;一上位机,与探针台连接,控制运动平台的移动;还设有一个RFID阅读器;探针卡设有八根探针,每两根为一组且相互平行排列,每个待测芯片对应一组探针;上位机连接RFID阅读器并控制其发出测试信号,根据待测芯片返回信号判断测试结果,保存到数据库。本发明提高了测试良率和产品的测试速度,节省了测试成本。
搜索关键词: 一种 rfid 高频 芯片 通道 测试 装置 方法
【主权项】:
一种RFID高频芯片四通道测试装置,其特征在于,包括:一探针台,包括一运动平台与一探针卡,所述运动平台承载待测晶圆,所述晶圆上规则分布有多片待测RFID高频芯片,所述探针卡上设置有探针,用于在测试时和所述RFID高频芯片接触;一上位机,与所述探针台连接,用于控制所述运动平台的移动;一RFID阅读器,用于和所述RFID高频芯片通讯;所述上位机连接所述RFID阅读器并控制其发出测试信号,根据所述待测芯片返回信号判断测试结果,保存到数据库。
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