[发明专利]集成肖特基整流器的栅增强功率MOSFET器件无效

专利信息
申请号: 201010282581.4 申请日: 2010-09-16
公开(公告)号: CN102005478A 公开(公告)日: 2011-04-06
发明(设计)人: 王颖;胡海帆;杨晓冬;焦文利 申请(专利权)人: 哈尔滨工程大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/47
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明提供的是一种集成肖特基整流器的栅增强功率MOSFET器件。包括由漂移区101、漏区102、场氧化层103、栅电极104、沟道区105和源电极106构成的晶体管。源电极106延伸到漂移区101、并与漂移区101形成肖特基接触。本发明可在不牺牲器件耐压的前提下,减少栅增强UMOS晶体管结构器件的反向恢复时间。本发明与常规UMOS晶体管工艺兼容,具有很强的可实施性,更易满足功率电子系统的应用要求。
搜索关键词: 集成 肖特基 整流器 增强 功率 mosfet 器件
【主权项】:
一种集成肖特基整流器的栅增强功率MOSFET器件,包括由漂移区(101)、漏区(102)、场氧化层(103)、栅电极(104)、沟道区(105)和源电极(106)构成的晶体管,其特征是:源电极(106)延伸到漂移(101)、并与漂移区(101)形成肖特基接触。
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