[发明专利]用于CMOS图像传感器的结合处理有效
申请号: | 201010283441.9 | 申请日: | 2010-09-16 |
公开(公告)号: | CN102074564A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 刘人诚;杨敦年;郭正铮;陈承先;伍寿国 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京市德恒律师事务所 11306 | 代理人: | 陆鑫;熊须远 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种用于CMOS图像传感器的结合处理。本发明还提供了一种制造集成电路(IC)的方法。该方法包括:在衬底的前侧上形成电器件;在衬底的前侧上形成顶部金属焊盘,该顶部金属焊盘连接至电器件;在衬底的前侧上形成钝化层,顶部金属焊盘被嵌入钝化层中;在钝化层中形成开口,使顶部金属焊盘暴露;在衬底中形成深沟槽;将导电材料填充在深沟槽和开口中,得到深沟槽中的晶圆通孔(TWV)部件和开口中的焊盘-TWV部件,其中,顶部金属焊盘通过焊盘-TWV部件连接至TWV部件;以及进行抛光处理以去除多余的导电材料,形成基本平坦的表面。 | ||
搜索关键词: | 用于 cmos 图像传感器 结合 处理 | ||
【主权项】:
一种制造集成电路(IC)的方法,包括:在衬底的前侧上形成电器件;在所述衬底的所述前侧上形成顶部金属焊盘,所述顶部金属焊盘连接至所述电器件;在所述衬底的所述前侧上形成钝化层,所述顶部金属焊盘被嵌入所述钝化层中;在所述钝化层中形成开口,使所述顶部金属焊盘暴露;在所述衬底中形成深沟槽;将导电材料填充在所述深沟槽和所述开口中,得到所述深沟槽中的晶圆通孔(TWV)部件和开口中的焊盘‑TWV部件,其中,所述顶部金属焊盘通过所述焊盘‑TWV部件连接至所述TWV部件;以及去除多余的导电材料,形成基本平坦的表面。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的