[发明专利]用于CMOS图像传感器的结合处理有效

专利信息
申请号: 201010283441.9 申请日: 2010-09-16
公开(公告)号: CN102074564A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 刘人诚;杨敦年;郭正铮;陈承先;伍寿国 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京市德恒律师事务所 11306 代理人: 陆鑫;熊须远
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供了一种用于CMOS图像传感器的结合处理。本发明还提供了一种制造集成电路(IC)的方法。该方法包括:在衬底的前侧上形成电器件;在衬底的前侧上形成顶部金属焊盘,该顶部金属焊盘连接至电器件;在衬底的前侧上形成钝化层,顶部金属焊盘被嵌入钝化层中;在钝化层中形成开口,使顶部金属焊盘暴露;在衬底中形成深沟槽;将导电材料填充在深沟槽和开口中,得到深沟槽中的晶圆通孔(TWV)部件和开口中的焊盘-TWV部件,其中,顶部金属焊盘通过焊盘-TWV部件连接至TWV部件;以及进行抛光处理以去除多余的导电材料,形成基本平坦的表面。
搜索关键词: 用于 cmos 图像传感器 结合 处理
【主权项】:
一种制造集成电路(IC)的方法,包括:在衬底的前侧上形成电器件;在所述衬底的所述前侧上形成顶部金属焊盘,所述顶部金属焊盘连接至所述电器件;在所述衬底的所述前侧上形成钝化层,所述顶部金属焊盘被嵌入所述钝化层中;在所述钝化层中形成开口,使所述顶部金属焊盘暴露;在所述衬底中形成深沟槽;将导电材料填充在所述深沟槽和所述开口中,得到所述深沟槽中的晶圆通孔(TWV)部件和开口中的焊盘‑TWV部件,其中,所述顶部金属焊盘通过所述焊盘‑TWV部件连接至所述TWV部件;以及去除多余的导电材料,形成基本平坦的表面。
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