[发明专利]驱动电路无效
| 申请号： | 201010284110.7 | 申请日： | 2010-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN102025359A | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 大场义之 | 申请（专利权）人： | 三洋电机株式会社;三洋半导体株式会社 |
| 主分类号： | H03K17/687 | 分类号： | H03K17/687;G09G3/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 日本国大阪府守*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种驱动电路，不需使用探针进行测定，而成批检查多个输出晶体管的耐压特性。本发明的驱动电路(1)是构成为于半导体芯片(2)上包含：输出晶体管(T1至Tm)，由高耐压P沟道型MOS晶体管所构成；开关控制电路(SCL1至SCLm)；输出端子(P1至Pm)；二极管(DO1至DOm)；以及控制端子(PX)。二极管(DO1至DOm)是由源极及栅极为共同连接的高耐压P沟道型MOS晶体管所构成。二极管(DO1至DOm)的阳极是各别连接至对应的输出端子(P1至Pm)的漏极(d1至dm)。二极管(DO1至DOm)的阴极是经由线路(3)共同连接至控制端子(PX)。 | ||
| 搜索关键词： | 驱动 电路 | ||
【主权项】：
一种驱动电路，其特征在于，具备有：多个输出晶体管，由施加正的电压于源极的P沟道型MOS晶体管所构成；开关控制电路，控制所述输出晶体管的开关；多个输出端子，分别连接至所述多个输出晶体管的各漏极；多个整流元件，阳极分别连接至所述多个输出晶体管的各漏极；以及控制端子，共同连接于所述多个整流元件的阴极。
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