[发明专利]触控点检测方法有效
申请号: | 201010284941.4 | 申请日: | 2010-09-16 |
公开(公告)号: | CN101950228A | 公开(公告)日: | 2011-01-19 |
发明(设计)人: | 洪春龙;张胜云;许育民;郑咏泽 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 姜燕;陈晨 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种用于电容式触控面板的触控点检测方法,该方法包括借由于水平方向与垂直方向上,扫描电容式触控面板的感测电容,得到对应于各感测电容的第一差异信号与第二差异信号、累计同列感测电容的第一差异信号,以产生对应于各列感测电容的列负载信号、累计同行感测电容的第二差异信号,以产生对应于各行感测电容的行负载信号、比较对应于一感测电容的列负载信号与行负载信号,以据以选择对应于该感测电容的第一差异信号或第二差异信号,以及依据所选择的差异信号与触控阈值,以判断该感测电容是否为一触控点。本发明的触控点检测方法可得到更正确的触控点检测结果。 | ||
搜索关键词: | 触控点 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种触控点检测方法,用于一电容式触控面板,该电容式触控面板具有(M×N)个感测电容、M个第一电极与N个第二电极,该(M×N)个感测电容耦接于该M个第一电极与该N个第二电极,该(M×N)个感测电容沿着一第一方向排列成M列感测电容,且沿着相异于该第一方向的一第二方向排列成N行感测电容,该触控点检测方法包括:透过该N个第二电极扫描该N行感测电容,以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第一差异信号;针对各列感测电容,相加对应于同列感测电容中的多个感测电容的第一差异信号,以产生对应于该M列感测电容的M个列负载信号;透过该M个第一电极扫描该M列感测电容,以得到对应于该(M×N)个感测电容的(M×N)个第二差异信号;针对各行感测电容,相加对应于同行感测电容中的多个感测电容的第二差异信号,以产生对应于该N行感测电容的N个行负载信号;以及依据该M个列负载信号、该N个行负载信号、该(M×N)个第一差异信号、该(M×N)个第二差异信号与一触控阈值,产生一触控点检测结果;其中M、N皆为正整数。
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