[发明专利]薄片类介质厚度鉴别装置及其鉴别方法有效

专利信息
申请号: 201010295247.2 申请日: 2010-09-21
公开(公告)号: CN101996433A 公开(公告)日: 2011-03-30
发明(设计)人: 梁添才;牟总斌;王荣胜;肖大海 申请(专利权)人: 广州广电运通金融电子股份有限公司
主分类号: G07D7/00 分类号: G07D7/00;G01B11/06
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 魏晓波;逯长明
地址: 510000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及介质厚度检测领域,特别涉及一种薄片类介质厚度鉴别装置及鉴别方法。为了解决现有薄片类介质厚度鉴别装置存在的测量可靠性低的问题,本发明提出一种薄片类介质厚度鉴别装置,其包括:一厚度测量模块,用于采集薄片类介质的厚度测量信息;一数据存储模块,用于存储标准厚度数据以及测量数据的基准标定数据;一数据校正模块,用于对厚度测量模块采集的厚度测量信息依据上述基准标定数据完成数据校正,形成薄片类介质的厚度检测数据;以及一鉴别模块,用于将上述厚度检测数据与上述标准厚度数据进行比对,完成薄片类介质厚度鉴别。通过对测量信息的校正,减小了测量误差,提高金融服务设备的鉴别精度,增强有价文件识别的鲁棒性。
搜索关键词: 薄片 介质 厚度 鉴别 装置 及其 鉴别方法
【主权项】:
一种薄片类介质厚度鉴别装置,其包括:一厚度测量模块,用于采集薄片类介质的厚度测量信息,其包括一安装在主动轴上的基准滚轮,一安装在浮动的从动轴上的从动检测滚轮以及一采集从动检测滚轮浮动位移数据的传感器;一数据存储模块,用于存储标准厚度数据以及测量数据的基准标定数据;一数据校正模块,用于对厚度测量模块采集的厚度测量信息依据上述基准标定数据完成数据校正,形成薄片类介质的厚度检测数据;以及一鉴别模块,用于将上述厚度检测数据与上述标准厚度数据进行比对,完成薄片类介质厚度鉴别。
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