[发明专利]粒子分析仪无效
| 申请号： | 201010295943.3 | 申请日： | 2010-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN102033031A | 公开（公告）日： | 2011-04-27 |
| 发明（设计）人： | 井塚宗久 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开一种粒子分析仪，其包括以下部分：流动池，让含有拍摄目标一多个粒子的试样流过；成像器件，拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒度的第一参数的第一特征值、关于粒度的第二参数的第二特征值、关于粒度的第三参数的第三特征值；控制部件，生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 分析 | ||
【主权项】：
一种粒子分析仪，包括：流动池，能让含有作为拍摄目标的多个粒子的试样流过；成像器件，用于拍摄通过所述流动池的所述试样中的粒子；图像处理部件，根据所述成像器件拍摄的粒子图像获取关于粒度的第一参数的第一特征值、关于粒度的第二参数的第二特征值和关于粒度的第三参数的第三特征值；控制部件，用于生成并输出同时显示所述第一至第三特征值的界面。
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