[发明专利]应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法有效
| 申请号： | 201010296409.4 | 申请日： | 2010-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN101975793A | 公开（公告）日： | 2011-02-16 |
| 发明（设计）人： | 沈骏;李红宝 | 申请（专利权）人： | 中国西电电气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/02 | 分类号： | G01N25/02;G01N25/16 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 汪人和 |
| 地址： | 710075*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法，对电瓷坯体的线膨胀率曲线进行微分，得到线膨胀率曲线的一次微分曲线；由线膨胀率曲线通过公式1和公式2联合计算出热膨胀系数曲线；α＝dL/L0×[1/(th-t0)]+α0 (公式1)；A＝dL/L0×100+α0(th-t0)×100 (公式2)。一次微分曲线的最后一个递减区域内对应坐标中最高温度，为电瓷坯体烧成的最低温度点；热膨胀系数曲线的最后一个递减区域内对应坐标中最高温度为电瓷坯体烧成的最高温度点。本发明依托测试手段较为先进的现代科学研究仪器，完成高温下坯体热膨胀测试，时间周期较短，准确性高，便于分析，人为影响因素少。 | ||
| 搜索关键词： | 应用 高温 膨胀 进行 电瓷坯体 烧成 温度 范围 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种应用高温膨胀仪进行电瓷坯体烧成温度范围的测定方法，其特征在于：对电瓷坯体的线膨胀率曲线(1)进行微分，得到线膨胀率曲线的一次微分曲线(2)；由线膨胀率曲线(1)通过公式1和公式2联合计算出热膨胀系数曲线(3)；α＝dL/L0×[1/(th‑t0)]+α0 (公式1)其中：α——试样(th‑t0)的平均线膨胀系数(10‑6℃‑1或10‑6K‑1)；dL——试样由温度t0升至th的长度伸长量(mm)；L0——室温(t0)下试样的长度(mm)；t0——试验时的起始温度(℃)；th——试验实际加热温度(℃)；α0——仪器的校正系数(10‑6℃‑1或10‑6K‑1)；A＝dL/L0×100+α0(th‑t0)×100 (公式2)其中：A——试样(th‑t0)的平均线膨胀率(％)；一次微分曲线(2)的最后一个递减区域内对应坐标中最高温度，为电瓷坯体烧成的最低温度点；热膨胀系数曲线(3)的最后一个递减区域内对应坐标中最高温度，为电瓷坯体烧成的最高温度点。
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