[发明专利]光能测量装置无效
| 申请号： | 201010299085.X | 申请日： | 2010-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN102445268A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 陈昱树;江国丰;陈颖庆;黄正杰;罗国萌;卢建廷 | 申请（专利权）人： | 富士迈半导体精密工业（上海）有限公司;沛鑫能源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/04;G01J1/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201600 上海市松江区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种光能测量装置，其包括沿光轴依次设置的平行光发射器、菲涅尔透镜、光纤阵列，以及光能测量仪，该光纤阵列包括多个相邻设置的光纤，每一光纤相对两端分别包括一入光面和一出光面，该多个光纤的入光面在该菲涅尔透镜的焦点处共面并定义一光能入射面，该多个光纤的出光面共面并定义一光能出射面，该光能测量仪包括光能探头和连接该光能探头的测量单元，该光能探头同该光能出射面光学耦合，该平行光发射器所发出的平行光线经菲涅尔透镜汇聚后至少照射部分该光能入射面，该光能测量仪用于感测并计算该光纤阵列光能入射面的光能分布。该光能测量装置可以准确测量太阳光聚焦后的能量分布。 | ||
| 搜索关键词： | 光能 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种光能测量装置，其包括沿光轴依次设置的平行光发射器、菲涅尔透镜、光纤阵列，以及光能测量仪，该光纤阵列包括多个相邻设置的光纤，每一光纤相对两端分别包括一入光面和一出光面，该多个光纤的入光面在该菲涅尔透镜的焦点处共面并定义一光能入射面，该多个光纤的出光面共面并定义一光能出射面，该光能测量仪包括光能探头和连接该光能探头的测量单元，该光能探头同该光能出射面光学耦合，该平行光发射器所发出的平行光线经菲涅尔透镜汇聚后至少照射部分该光能入射面，该光能测量仪用于感测并计算该光纤阵列光能入射面的光能分布。
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