[发明专利]一种芯片和一种芯片并行测试的方法有效
| 申请号： | 201010501240.1 | 申请日： | 2010-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN102446557A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 苏志强;舒清明;朱一明 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C19/28 | 分类号： | G11C19/28;G11C29/12 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100084 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种芯片和一种芯片平行测试的方法，其中的芯片具体包括：多个并口；接口转换单元，包括多个接口，其中，所述接口与所述多个并口相连，且所述接口与测试机台的探针一一对应相连，包括：串行接收模块，用于串行接收来自所述测试机台的测试数据；及并行输入模块，用于在接收完毕后，将所述测试数据并行输入至所述多个并口；处理单元，用于针对所述多个并口的测试数据，处理得到相应的处理数据；及并转串输出单元，用于将所述多个并口的处理数据，通过并转串的方法输入至所述接口转换单元；所述接口转换单元还包括：串行输出模块，用于将所述处理数据，串行输出至所述测试机台。本发明用以提高芯片的并行测试速度，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 并行 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片，其特征在于，包括：多个并口；接口转换单元，包括多个接口，其中，所述接口与所述多个并口相连，且所述接口与测试机台的探针一一对应相连，包括：串行接收模块，用于串行接收来自所述测试机台的测试数据；及并行输入模块，用于在接收完毕后，将所述测试数据并行输入至所述多个并口；处理单元，用于针对所述多个并口的测试数据，处理得到相应的处理数据；及并转串输出单元，用于将所述多个并口的处理数据，通过并转串的方法输入至所述接口转换单元；所述接口转换单元还包括：串行输出模块，用于将所述处理数据，串行输出至所述测试机台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京兆易创新科技有限公司，未经北京兆易创新科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010501240.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
