[发明专利]分析位置的方法与装置有效
| 申请号： | 201010502706.X | 申请日： | 2010-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN102043514A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 张钦富;李政翰;唐启豪;何顺隆 | 申请（专利权）人： | 禾瑞亚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 中国台湾台北市*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种分析位置的方法与装置。本发明是在感测资讯中判断出相应于一第一特性的触碰相关感测资讯中的至少一位置。感测资讯同时另外存在相应于一第二特性的触碰相关感测资讯，第二特性与第一特性相反，并且相应于一第二特性的触碰相关感测资讯被忽略或被滤除。 | ||
| 搜索关键词： | 分析 位置 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种分析位置的方法，其特征在于其包括以下步骤：由多个感测器取得相应于至少一第一外部物件接近或触碰一信号源的一触敏资讯，其中该至少一第一外部物件电性耦合于至少一第二外部物件，并且该触敏资讯相应于该些感应器互电容耦合于该信号源、该至少一第一外部物件及该至少一第二外部物件的信号；决定该触敏资讯中相应于该至少一第一外部物件的一特性；以及仅在该触敏资讯中符合该特性的部分分析相应于该至少一第一外部物件接近或触碰的位置。
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