[发明专利]等离子体反应腔室及其设备、部件的制造方法和处理基片的方法无效

专利信息
申请号: 201010504191.7 申请日: 2010-09-30
公开(公告)号: CN102154630A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 南建辉;宋巧丽 申请(专利权)人: 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司
主分类号: C23C16/50 分类号: C23C16/50;C23C16/513
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 逯长明;王宝筠
地址: 100016 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种等离子体反应腔室及其部件的制造方法、等离子体增强化学气相沉积设备和在该设备内处理基片的方法,所述反应腔室内的部件在工艺过程中具有一个或多个表面与等离子体接触,所述部件与等离子接触的表面经过粗化处理,以增强工艺过程中产生的聚合物与所述部件表面的结合度。本发明提供的等离子体反应腔室及其部件的制造方法,能够延长设备维护周期,减少设备清洗频率,从而增加工艺时间,提高生产效率。
搜索关键词: 等离子体 反应 及其 设备 部件 制造 方法 处理
【主权项】:
一种等离子体反应腔室,所述反应腔室内的部件在工艺过程中具有一个或多个表面与等离子体接触,其特征在于,所述部件与等离子接触的表面经过粗化处理,以增强工艺过程中产生的聚合物与所述部件表面的结合度。
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