[发明专利]一种集成反并联二极管的IGBT结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201010506011.9 申请日: 2010-09-30
公开(公告)号: CN102446966A 公开(公告)日: 2012-05-09
发明(设计)人: 温世达;肖秀光 申请(专利权)人: 比亚迪股份有限公司
主分类号: H01L29/739 分类号: H01L29/739;H01L29/06;H01L21/331
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518118 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种集成反并联二极管的IGBT结构及其制造方法,属于半导体功率器件领域,该集成反并联二极管的IGBT在现有集成反并联二极管的IGBT的P型集电区和N型集电区之间加入使P型集电区和N-型漂移区形成的二极管一直处于正向导通状态的半导体区,维持N型集电区及其上方N-漂移区的高阻特性,在给集电极由小到大渐变施加电压时,使P型集电区和N-型漂移区形成的二极管一直处于正向导通状态,不影响IGBT的通态压降,达到了减弱集成反并联二极管IGBT突然跳回现象的目的。
搜索关键词: 一种 集成 并联 二极管 igbt 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
一种集成反并联二极管的IGBT结构,包括:集电极、P型集电区、N型集电区、N‑型漂移区、第一P型阱区、第二P型阱区、第一N型有源区、第二N型有源区、第一绝缘层、门极、第二绝缘层、发射极;所述P型集电区和N型集电区位于所述集电极上部的同一层;所述N‑型漂移区位于P型集电区和N型集电区的上部;所述第一P型阱区和第二P型阱区自N‑漂移区表面两侧向下延伸,被N‑漂移区表面中间部分隔离开;所述第一N型有源区位于第一P型阱区内,所述第二N型有源区位于第二P型阱区内;所述第一绝缘层与N‑型漂移区表面部分、第一P型阱区部分、第一N型有源区部分、第二P型阱区部分、第二N型有源区部分相连;所述门极与第一绝缘层相连;所述第二绝缘层位于所述门极与发射极之间;所述发射极分别与第一P型阱区部分、第一N型有源区部分、第二绝缘层、第二P型阱区部分、第二N型有源区部分相连;其特征在于,所述集成反并联二极管的IGBT结构还包括:在给集电极由小到大渐变施加电压时,使P型集电区和N‑型漂移区形成的二极管一直处于正向导通状态的半导体区,所述半导体区位于P型集电区和N型集电区之间的同一层。
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