[发明专利]MOS器件的SPICE测试结构有效
| 申请号： | 201010508099.8 | 申请日： | 2010-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN102445644A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 包自意;李莲 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 屈蘅;李时云 |
| 地址： | 20120*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种MOS器件的SPICE测试结构，该结构包括多个依次排列的MOS器件以及多个引脚，所有MOS器件的衬底相连；排列位置为奇数的MOS器件的栅极相连；排列位置为偶数的MOS器件的栅极相连；前一MOS器件的源极或漏极与后一相邻MOS器件的漏极或源极对应共用，形成多个共用脚；所述排列位置为奇数的MOS器件的栅极、排列位置为偶数的MOS器件的栅极、所述多个共用脚、排列位置为首位的MOS器件的漏极或源极、排列位置为末位的MOS器件的源极或漏极分别连接一个引脚。从而可在有限的面积下放置更多的MOS器件，避免了相邻MOS器件在进行漏电流测试时相互影响，提高了漏电流的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | mos 器件 spice 测试 结构 | ||
【主权项】：
一种MOS器件的SPICE测试结构，包括多个依次排列的MOS器件以及多个引脚，其特征在于，所述多个MOS器件的衬底连接在一起；排列位置为奇数的MOS器件的栅极连接在一起；排列位置为偶数的MOS器件的栅极连接在一起；所述多个MOS器件中的前一MOS器件的源极与后一相邻MOS器件的漏极共用，或前一MOS器件的漏极与后一相邻MOS器件的源极共用，形成多个共用脚；所述排列位置为奇数的MOS器件的栅极、排列位置为偶数的MOS器件的栅极、所述多个共用脚、排列位置为首位的MOS器件的漏极或源极、以及排列位置为末位的MOS器件的源极或漏极分别连接所述多个引脚中的一个引脚。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司，未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201010508099.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种鲍鱼肚为主体的降糖胶囊及其加工方法
- 下一篇：药瓶
