[发明专利]离心清洗高密度器件的工艺方法无效

专利信息
申请号: 201010514137.0 申请日: 2010-10-19
公开(公告)号: CN102233339A 公开(公告)日: 2011-11-09
发明(设计)人: 阎德劲 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十研究所
主分类号: B08B3/04 分类号: B08B3/04;B08B3/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610036 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提出的一种离心清洗高密度器件的工艺方法,旨在提供一种既不损伤元器件,又能高效干净清洗BGA、CSP的离心清洗工艺方法。本发明通过下述技术方案予以实现:首先将待洗高密度器件印制板组装件(PCBA)浸泡于离心清洗设备中的清洗溶液中,浸泡3-5分钟,然后将待洗PCBA用旋转臂夹持后,伸入密封腔体内,浸入清洗溶液内,实施正、反循环旋转进行离心清洗,正转/反转数次后,随后,在同一离心清洗设备中,分阶段对上述PCBA上的元器件进行喷淋清洗和漂洗工序。本发明解决了低架空高度、高密度封装的BGA、CSP底部难以清洗干净的难题,避免了超声波清洗对器件损害的缺陷。可专用于BGA、CSP器件的离心清洗。
搜索关键词: 离心 清洗 高密度 器件 工艺 方法
【主权项】:
一种离心清洗高密度器件的工艺方法,包括如下步骤,首先将待洗高密度器件印制板组装件(PCBA)浸泡于离心清洗设备中的清洗溶液中,浸泡3‑5分钟,然后将待洗PCBA用旋转臂夹持后,伸入密封腔体内,浸入清洗溶液内,实施正、反循环旋转进行离心清洗,正转/反转数次后,随后,在同一离心清洗设备中,分阶段对上述PCBA上的元器件进行喷淋清洗和漂洗工序。
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