[发明专利]一种显微序列图像的多特征点跟踪方法有效
申请号: | 201010516768.6 | 申请日: | 2010-10-20 |
公开(公告)号: | CN101976446A | 公开(公告)日: | 2011-02-16 |
发明(设计)人: | 刘盛;方婷;管秋;陈胜勇;王万良 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | G06T7/20 | 分类号: | G06T7/20 |
代理公司: | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人: | 王兵;王利强 |
地址: | 310014 *** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: |
一种显微序列图像的多特征点跟踪方法,包括以下步骤:1)初始化特征点跟踪模板中心坐标,跟踪窗口大小。2)状态的表示 |
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搜索关键词: | 一种 显微 序列 图像 特征 跟踪 方法 | ||
【主权项】:
1.一种显微序列图像的多特征点跟踪方法,其特征在于:所述多特征点跟踪方法包括以下步骤:1)已知显微序列图像的一组特征点的中心坐标,设定bt=(xt(1),yt(1),…,xt(i),yt(i))T一个包含多点像素坐标的列矢量,其中i=1,…,k,t=1,…,N,k,N分别表示被选取跟踪特征点数量和序列图像中帧数量;点模板T(Xt(i))为一组以被跟踪点为中心m×n像素点矩阵与当前帧点状态Xt(i)的乘积;2)状态的表示:图像畸变;由可逆矩阵Rt(i)表示,所有的点畸变程度和旋转角速度视为相等并用可逆旋转矩阵Rt=0示,状态转移矩阵Xt(i)=(Rt(i),0;Mt(i),1)中的平移矢量被表示为Mt=(Mxt(1),Myt(1),…,Mxt(i),Myt(i))T;一般刚体的运动被表示为l ( b t ( i ) ) = R t ( i ) b t ( i ) + M t ( i ) - - - ( 1 ) ]]> 其中,l是一个非线性函数可以表示刚性物体点的运动,Rt(i)∈R2是一个2×2的可逆矩阵,Mt(i)∈R2是一个2×i的平移矢量;每个刚体运动都由矩阵Rt(i)和矢量Mt(i)表示,将{Rt(i),Mt(i)}经过指数变换映射到李代数{Γt(i),γt(i)},其关系是:R t ( i ) M t ( i ) 0 1 = exp Γ t ( i ) γ t ( i ) 0 0 - - - ( 2 ) ]]> 其中,Γ∈gl(2),γ∈gl(2),在指数空间中,等式右边矩阵经分解计算得到仿射变换基为ξm,m=1,…,3;ξ 1 = 0 0 s x 0 0 s y 0 0 0 ξ 2 = s x 0 0 0 s y 0 0 0 0 ξ 3 = 0 s x 0 s y 0 0 0 0 0 - - - ( 3 ) ]]> 其中,sx,sy是仿射变换的单位值;sx,sy∈{+1,-1},b1,b5由仿射变换单位矩阵ξ1中的变化元素表示;b2,b3代表长度和高度均发生畸变的裁剪仿射形变,由仿射变换矩阵ξ2中的变化元素表示;b4,b6代表缩放变换,由矩阵ξ3中的变化元素表示;3)状态预测:结合李代数中的指数函数,状态转移矩阵按几何学定义为:X t ( i ) = X t - 1 ( i ) exp ( a i log ( ( X t - 2 ( i ) ) - 1 X t - 1 ( i ) ) + Σ m = 1 3 ξ m ϵ τ t ) - - - ( 4 ) ]]> 其中,ai是一阶自动回归过程参数,τt表示零均值高斯噪声;ε为视频帧速率倒数平方根。量测状态方程也能够被表示成离散化为:y ( X t ( i ) ) = f ( X t ( i ) ) + v t - - - ( 5 ) ]]> 其中,f是量测函数,vt是量测零均值噪声;最优状态
的估计是依据粒子样本权值计算,其中,j=1,…,G,G是采样的粒子个数。为了能准确得到仿射形变参数,一般不是直接对Xt(i)采样,而是对它的组成元素{Rt(i,1),…,Rt(i,G)}采样或重采样:R ‾ t ( i ) M ‾ t ( i ) 0 1 = exp Γ ‾ t ( i ) γ ‾ t ( i ) 0 0 ]]>= R t , max ( i ) 1 G exp Σ j = 1 G log ( R t , max ( i ) - 1 R t ( i , j ) ) M ‾ t ( i ) 0 0 - - - ( 6 ) ]]> 其中,Rt,max(i,j)表示重采样前的权值最大的粒子。
是Mt(i,j)的算术平均值;4)模板图像协方差值计算,对与联合状态参数相关的样本协方差U进行估算。U = 1 G - 1 Σ j = 1 G μ t ( i , j ) μ t ( i , j ) T - - - ( 7 ) ]]>μ t ( i , j ) = log ( U t ( i , j ) ) - 1 G Σ j = 1 G log ( U t ( i , j ) ) - - - ( 8 ) ]]> 其中,μt(i)为列矢量。由于初始模板图像给定,跟踪过程中会生成新的模板图像,因此模板图像中每个像素都可以用特征矢量h=(xt(i),yt(i) bt(i,d),bt(i,θ),I(Xt(i))Ix,Iy,tan-1(Ix/Iy),Ixx,Iyy)T表示,其中(xt(i),yt(i))是模板中心坐标,bt(i,d),bt(i,θ)为极坐标,I(Xt(i))表示像素强度,Ix,Iy,Ixx,Iyy分别表示一阶和二阶梯度导数。这样做可以尽量减少光照变化对显微图像跟踪的影响。再计算点模板块的协方差描述子S:S X t = 0 ( i ) = 1 z - 1 Σ i z ( h X t ( i ) - h ^ ) ( h X t ( i ) - h ^ ) T - - - ( 9 ) ]]> 其中,z是模板窗口大小,
是h(Xt(i))的均值,S(Xt=0(i))和S(Xt(i))之间的相似性被理解为它们自身之间的对数欧式空间距;5)状态更新:收集到协方差描述子后,需要计算特征空间距离和特征间距离,对比图像相似性,此时量测函数表示为:y t ( i ) = | | log S X t ( i ) - log ( S ‾ ) | | 2 - Σ n = 1 M c n 2 Σ n = 1 M c n 2 ρ n | | I X t ( i ) - I ‾ | | + v t ( i ) - - - ( 10 ) ]]> 其中,c0是投影系数,ρn是特征值,
表示图像强度均值,然后用t时刻的量测值yt(i)来修正状态的先验概率密度,得到该时刻的后验概率密度:p ( y t ( i ) | X t ( i ) ) ∝ exp ( y t ( i ) T R - 1 y t ( i ) ) - - - ( 11 ) ]]> 其中,R是零均值高斯噪声vt的协方差;6)估算出最优状态
根据获取的与测量释然函数有关的后验概率密度p(yt(i)|Xt(i),计算出权值
并归一化权值,将输出一组与当前时间步后验均值相关的粒子
根据设定有效粒子的门限判断是否执行重采样,重采样则得到新的粒子集合
计算出
实现当前帧中多个关键结构点跟踪;然后令t=t+1,执行计算每个粒子的权重,重复刚才的步骤,最终实现在长序列显微图像中多点跟踪。
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