[发明专利]一种化学机械抛光液无效
申请号: | 201010517514.6 | 申请日: | 2010-10-22 |
公开(公告)号: | CN102453440A | 公开(公告)日: | 2012-05-16 |
发明(设计)人: | 宋伟红;姚颖 | 申请(专利权)人: | 安集微电子(上海)有限公司 |
主分类号: | C09G1/02 | 分类号: | C09G1/02 |
代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人: | 李佳铭 |
地址: | 201203 上海市浦东新区张江高*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明揭示了一种用于阻挡层平坦化的化学机械抛光液,它至少包含一种磨料粒子,一种金属螯合剂,一种二氧化硅抛光促进剂,组合金属防腐蚀剂,一种辅助清洗组分以及一种氧化剂。该抛光液在阻挡层的抛光中能有效去除晶片表面的。颗粒物残留和抛光垫上的金属化合物残留,且具有较好的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 化学 机械抛光 | ||
【主权项】:
一种用于铜互连阻挡层化学机械抛光的抛光液,包括:一种磨料颗粒、一种金属螯合剂、一种二氧化硅抛光促进剂、组合金属防腐蚀剂、一种辅助清洗剂以及一种氧化剂。
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