[发明专利]具有垂直双极注入器的DRAM存储器单元有效

专利信息
申请号: 201010521914.4 申请日: 2010-10-25
公开(公告)号: CN102130128A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: C·马聚;R·费朗特 申请(专利权)人: S.O.I.TEC绝缘体上硅技术公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L29/06;H01L27/12
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;靳强
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及一种具有垂直双极注入器的DRAM存储器单元,包括:具有源极(S)、漏极(D)和位于源极和漏极之间的浮体(FB)的FET晶体管,被控制为将电荷注入FET晶体管的浮体中的注入器,所述注入器包括双极型晶体管,所述双极型晶体管具有发射极、基极和由FET晶体管的浮体形成的集电极,所述单元的特征在于,双极型晶体管的发射极被设置为FET晶体管的源极作为双极型晶体管的基极。本发明还涉及包括多个根据本发明的第一方面的存储器单元的存储器阵列,以及控制这种存储器单元的方法。
搜索关键词: 具有 垂直 注入 dram 存储器 单元
【主权项】:
一种存储器单元,包括:具有连接到源极线(SL)的源极(S)、连接到位线(BL)的漏极(D)和位于源极和漏极之间的浮体(FB)的水平FET晶体管,被控制为将电荷注入FET晶体管的浮体中的注入器,所述注入器包括双极型晶体管,所述双极型晶体管具有连接到注入线的发射极(15,25,35)、基极和由FET晶体管的浮体形成的集电极,所述单元的特征在于,双极型晶体管的发射极被设置为发射极/源极组件形成垂直堆叠,FET晶体管的源极作为双极型晶体管的基极。
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