[发明专利]像素缺陷校正器件、成像设备、像素缺陷校正方法和程序无效
| 申请号： | 201010521985.4 | 申请日： | 2010-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN102055917A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 桥爪淳 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | H04N5/367 | 分类号： | H04N5/367;H04N9/04 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 郭定辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供了像素缺陷校正器件、成像设备、像素缺陷校正方法和程序。该像素缺陷校正器件包括：缺陷确定部件，确定图像的感兴趣像素是否为图像的缺陷，在所述图像中以二维方式排列每一个均具有像素值的多个像素；梯度检测部件，至少基于处理区域中包括的感兴趣像素周围的外围像素的值，在处理区域中检测梯度或边缘，所述处理区域包括多个像素，其中感兴趣像素位于中间；校正值获取部件，根据检测到的梯度或边缘，选择用于感兴趣像素的校正值的获取的像素，并根据所选的像素的值来获取校正值；以及缺陷像素替换部件，当确定感兴趣像素为缺陷时，以校正值替换感兴趣像素的值。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 缺陷 校正 器件 成像 设备 方法 程序 | ||
【主权项】：
一种像素缺陷校正器件，包括：缺陷确定部件，确定图像的感兴趣像素是否为图像的缺陷，在所述图像中以二维方式排列每一个均具有像素值的多个像素；梯度检测部件，至少基于处理区域中包括的所述感兴趣像素周围的外围像素的值，在所述处理区域中检测梯度或边缘，所述处理区域包括多个像素，其中感兴趣像素位于中间；校正值获取部件，根据检测到的梯度或边缘，选择用于所述感兴趣像素的校正值的获取的像素，并根据所选的像素的值来获取所述校正值；和缺陷像素替换部件，当确定所述感兴趣像素为图像的缺陷时，以所述校正值替换所述感兴趣像素的值。
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