[发明专利]一种基准尺法大直径测量π尺装置及测量方法

摘要

本发明一种基准尺法大直径测量π尺装置及测量方法属于重载大尺寸直径测量领域，涉及测量大直径工件尺寸的高精度测量装置和方法。该装置由初始测量单元和一系列相互独立的基准测量单元组成。每一个测量单元由左右两个长方体磁性定位元件、一个殷钢测量带组成。采用的测量方法是先将初始测量单元A安装在被测圆周表面被测直径部位处，确认初始测量单元上左定位元件与右定位元件与被测圆周表面接触，并且通过长方形磁铁上的水平仪保证定位块水平，测量带张紧紧贴着被测量元件。本发明具有精度高、成本低、操作简便以及便携性等特点而在这些场合具有很好的推广价值和应用价值。

主权项

一种基准尺法大直径测量π尺装置及测量方法，其特征在于，该装置由初始测量单元(A)和一系列相互独立的基准测量单元(B、C、D、E、F、G、H、I、J、K、L)组成；初始测量单元(A)设有水平仪A2和封闭环尺寸测量部件，其中封闭环测量部件由固定螺钉(A3)，卡尺固定架(A4、A4’)，电子游标卡尺(A5)，封闭环测量带(A6)，数码显示屏(A7)，移动滑块(A8)，自动张紧绳(A9)组成；基准测量单元由左右两个长方体磁性定位元件、一个殷钢测量带组成，其长度有四种：1米，0.5米，0.25米，0.125米，其中测量单元(A、B、C、D、E、F、G、H、I)的长度为1米，测量单元(J)的长度为0.5米，测量单元(K)的长度为0.25米，测量单元(L)的长度为0.125米；这套装置可测量的直径最大值为3.145米。