[发明专利]集成电路元件、其形成方法及封装组件无效

专利信息
申请号: 201010529468.1 申请日: 2010-10-29
公开(公告)号: CN102254870A 公开(公告)日: 2011-11-23
发明(设计)人: 黄见翎;吴逸文;刘重希 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/00 分类号: H01L23/00;H01L23/31;H01L23/488;H01L21/60
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 姜燕;陈晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供用于铜柱凸块技术的L型侧壁保护工艺,L型侧壁保护结构由至少一非金属材料层形成,例如介电材料层、高分子材料层或前述的组合。本发明还提供一种集成电路元件、其形成方法及封装组件,该集成电路元件包括:一凸块结构,设置于一半导体基底上,其中该凸块结构包括一顶部表面及一侧壁表面,且该半导体基底包括一表面区邻接该凸块结构的该侧壁表面;以及一L型保护结构,覆盖该凸块结构的该侧壁表面,且延伸至该半导体基底的该表面区,其中该L型保护结构由一非金属材料层形成。本发明可以应用在微细间距的凸块架构。
搜索关键词: 集成电路 元件 形成 方法 封装 组件
【主权项】:
一种集成电路元件,包括:一凸块结构,设置于一半导体基底上,其中该凸块结构包括一顶部表面及一侧壁表面,且该半导体基底包括一表面区邻接该凸块结构的该侧壁表面;以及一L型保护结构,覆盖该凸块结构的该侧壁表面,且延伸至该半导体基底的该表面区,其中该L型保护结构由一非金属材料层形成。
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