[发明专利]电子装置测试系统及方法无效
| 申请号： | 201010532043.6 | 申请日： | 2010-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN102455965A | 公开（公告）日： | 2012-05-16 |
| 发明（设计）人： | 饶耀中;蔡圣源;王定宏;庄濬维;张天超 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 陈红 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电子装置测试系统及方法。所述电子装置测试系统包含一第一数据传输装置、一接口转接卡以及一计算机。第一数据传输装置具有热移除功能。接口转接卡包含一第二数据传输接口以及一转换模块。第二数据传输接口用以连接一待测装置。转换模块电性连接第一数据传输装置以及第二数据传输接口，且对第一数据传输装置以及第二数据传输接口之间传输的数据进行转换。计算机包含一处理组件。处理组件透过第一数据传输装置，连接接口转接卡。处理组件使第一数据传输装置，透过接口转接卡，对待测装置进行一功能测试。在功能测试完成时，处理组件通过热移除功能，移除第一数据传输装置。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 装置 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种电子装置测试系统，其特征在于，包含：一第一数据传输装置，具有一热移除功能；一接口转接卡，包含：一第二数据传输接口，用以连接一待测装置；以及一转换模块，电性连接该第一数据传输装置以及该第二数据传输接口，对该第一数据传输装置以及该第二数据传输接口之间传输的数据进行转换；以及一计算机，包含：一处理组件，透过该第一数据传输装置，连接该接口转接卡，包含：一测试模块，使该第一数据传输装置，透过该接口转接卡，对该待测装置进行一功能测试；以及一移除模块，在该功能测试完成时，通过该热移除功能，移除该第一数据传输装置。
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