[发明专利]一种清洁晶片装置有效

专利信息
申请号: 201010536700.4 申请日: 2010-11-05
公开(公告)号: CN102468117A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 王锐廷;吴仪 申请(专利权)人: 北京七星华创电子股份有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;B08B3/12;H01L21/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹
地址: 100016 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及半导体集成电路器件清洁工艺技术领域,特别涉及一种清洁晶片装置。该清洁装置包括压电晶体振子、用于安装所述压电晶体振子的腔室以及与压电晶体振子固定连接的换能器,换能器表面具有若干个凸起的柱体,柱体间具有若干个微孔,微孔贯通至换能器的底部。通过本发明提供的具有贯通微孔的换能器,利用兆声波物理传输原理产生与晶片特征尺寸侧壁平行的作用力,对特征尺寸不会产生弯矩的效应,最大程度的减小和消除对晶片特征尺寸结构的破坏,从而提高了对残留物的化学清除效率。
搜索关键词: 一种 清洁 晶片 装置
【主权项】:
一种清洁晶片装置,其特征在于,包括:压电晶体振子(1)、用于安装所述压电晶体振子(1)的腔室(2)以及与所述压电晶体振子(1)固定连接的换能器(5),所述换能器(5)表面具有若干个凸起的柱体(51),所述柱体(51)间具有若干个微孔(52),所述微孔(52)贯通至换能器(5)的底部。
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