[发明专利]一种存储器的自检测电路和方法有效

专利信息
申请号: 201010539842.6 申请日: 2010-11-10
公开(公告)号: CN102013274A 公开(公告)日: 2011-04-13
发明(设计)人: 董欣;邹杨 申请(专利权)人: 无锡中星微电子有限公司
主分类号: G11C29/18 分类号: G11C29/18
代理公司: 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 代理人: 戴薇
地址: 214028 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种存储器的自检测电路,其中所述寄存器组中存有测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式,所述控制信号发生器将生成的控制信号发送给所述数据生成器和地址生成器,所述数据生成器按照所述数据生成方式生成测试数据并将所述测试数据发送给所述数据比较器和测试接口,所述测试接口将所述测试数据存入存储器中,所述地址生成器根据所述地址范围和地址方式生成测试地址并将所述测试地址发送给所述地址选择器,所述地址选择器根据所述测试地址和所述存储器中的地址进行匹配,所述测试接口根据所述寄存器组中的测试方式以及测试地址从所述存储器中读取数据,所述数据比较器比较所述测试数据和从测试接口读取的数据。
搜索关键词: 一种 存储器 检测 电路 方法
【主权项】:
一种存储器的自检测电路,其包括数据生成器、数据比较器、地址生成器、地址选择器、寄存器组、控制信号发生器以及测试接口,其特征在于:所述寄存器组中存有测试方式、地址范围、地址生成方式以及数据生成方式,所述控制信号发生器将生成的控制信号发送给所述数据生成器和地址生成器,所述数据生成器按照所述数据生成方式生成测试数据并将所述测试数据发送给所述数据比较器和测试接口,所述测试接口将所述测试数据存入存储器中,所述地址生成器根据所述地址范围和地址方式生成测试地址并将所述测试地址发送给所述地址选择器,所述地址选择器根据所述测试地址和所述存储器中的地址进行匹配,所述测试接口根据所述寄存器组中的测试方式以及测试地址从所述存储器中读取数据,所述数据比较器比较所述测试数据和从测试接口读取的数据。
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