[发明专利]用于基板定位和检测的偏移校正方法和装置有效
申请号: | 201010543398.5 | 申请日: | 2007-09-14 |
公开(公告)号: | CN102110628A | 公开(公告)日: | 2011-06-29 |
发明(设计)人: | 杰克·陈;安德鲁·D·贝利三世;本·穆林;斯蒂芬·J·凯恩 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/00 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 周文强;李献忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种用于基板定位和检测的偏移校正方法和装置。本发明提供一种用于捕获基板图像的斜角检测模块。该模块包括与基板夹头连接的旋转马达,该旋转马达被配置为旋转该基板夹头从而使该基板旋转。该模块还包括照相机和与照相机连接的光学罩,该光学罩被配置为可以旋转的,使闪光可以朝向该基板。该照相机装载在照相机支架上,该照相机支架被配置为使该照相机可水平旋转180度,使得该照相机可以捕获图像,该图像至少包括该基板的俯视图,仰视图和侧视图之一。该模块还包括背光装置,该背光装置被配置为提供光照给该基板,从而使该照相机能捕获该图像,该图像显示基板和背景间的对比。 | ||
搜索关键词: | 用于 定位 检测 偏移 校正 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种计算处理室内的夹头的处理中心的方法,该方法包括:利用斜角检测模块捕获处理过的基板边沿的图像;测量从该处理过的基板的边沿的一组距离以得到干涉条纹,该组距离是在一组角度上测量的;生成离心曲线,该离心曲线为该组距离相对于该组角度的图形形式;及对该离心曲线应用曲线拟合方程以计算该处理中心。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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