[发明专利]液晶盒厚测量方法、液晶显示装置及其制造方法无效
| 申请号： | 201010544670.1 | 申请日： | 2010-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN102466475A | 公开（公告）日： | 2012-05-23 |
| 发明（设计）人： | 郭建;周伟峰;明星;肖光辉 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08;G01B11/06;G02F1/1333;G02F1/1339 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 100176 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种液晶盒厚测量方法、液晶显示装置及其制造方法，其中，液晶盒厚测量方法包括：在阵列基板和彩膜基板对盒后，测量封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸，所述多个盒厚测量物质具有不同的初始尺寸；获取发生形变的多个盒厚测量物质中的形变物质最小初始尺寸，以及未发生形变的多个盒厚测量物质中的原状物质最大初始尺寸，所述液晶盒厚的数值则确定为位于所述形变物质最小初始尺寸和原状物质最大初始尺寸之间。本实施例的液晶盒厚测量方法，通过测量盒厚测量物质的尺寸变化而反应出液晶盒厚，解决了液晶材料变更影响液晶盒厚测量效果的问题，避免了液晶材料的变更对于液晶盒厚测量效果的影响，实现了准确测量和控制液晶盒厚。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 测量方法 显示装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶盒厚测量方法，其特征在于，包括：在液晶显示装置的阵列基板和彩膜基板对盒后，测量用于密封所述阵列基板和彩膜基板的封框胶中的多个盒厚测量物质的对盒尺寸，所述多个盒厚测量物质具有不同的初始尺寸；获取发生形变的多个盒厚测量物质中的形变物质最小初始尺寸，以及未发生形变的多个盒厚测量物质中的原状物质最大初始尺寸，所述液晶盒厚的数值则确定为位于所述形变物质最小初始尺寸和原状物质最大初始尺寸之间。
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