[发明专利]一种提高磁控溅射工艺制备金属薄膜与基底结合力的方法无效

专利信息
申请号: 201010546632.X 申请日: 2010-11-15
公开(公告)号: CN102465274A 公开(公告)日: 2012-05-23
发明(设计)人: 吕旭东;王磊;华志强;李弢;袁学韬 申请(专利权)人: 北京有色金属研究总院
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/02;C23C14/48
代理公司: 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 代理人: 耿小强
地址: 100088 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种提高磁控溅射工艺制备金属薄膜与基底结合力的方法,在磁控溅射工艺制备金属薄膜时,预先将基底进行离子注入后,再进行磁控溅射镀膜,得到所需导电金属薄膜。本发明还公开了采用上述方法制备金属薄膜的方法,包括将基底表面用丙酮清洗后,氮气吹干;使用MEVVA源对基底进行离子注入,离子注入能量为10kev~100kev,注入浓度为1016~5x1017/cm3;取出经过离子注入后的基底,进行磁控溅射,磁控溅射过程中气压为0.1pa~10pa,溅射时间为10~20分钟,基底温度为室温至300℃,得到金属薄膜。本发明方法大大提高了金属导电层与基底的结合力,可大幅度增加以该方法为基础制备出来的精密电子线路等器件的寿命。
搜索关键词: 一种 提高 磁控溅射 工艺 制备 金属 薄膜 基底 结合 方法
【主权项】:
一种提高磁控溅射工艺制备金属薄膜与基底结合力的方法,其特征在于:在磁控溅射工艺制备金属薄膜时,预先将基底进行离子注入后,再进行磁控溅射镀膜,得到所需导电金属薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京有色金属研究总院,未经北京有色金属研究总院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201010546632.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top