[发明专利]化学机械抛光组合物及其相关方法有效

专利信息
申请号: 201010553984.8 申请日: 2010-11-11
公开(公告)号: CN102061132A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 刘振东;郭毅;K-A·K·雷迪;G·张 申请(专利权)人: 罗门哈斯电子材料CMP控股股份有限公司
主分类号: C09G1/02 分类号: C09G1/02;B24B37/00;H01L21/304
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 陈哲锋;周承泽
地址: 美国特*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种可以用于基材的化学机械抛光的化学机械抛光组合物,所述基材包含氧化硅材料和氮化硅材料;以及所述化学机械抛光组合物的制备和使用方法。所述化学机械抛光组合物包含以下物质作为初始组分:式I所示的第一物质和式II所示的第二物质中的至少一种;磨料;和水。
搜索关键词: 化学 机械抛光 组合 及其 相关 方法
【主权项】:
1.一种化学机械抛光组合物,其包含以下物质作为初始组分:式I的第一物质式中R1,R2,R3,R4,R5,R6和R7各自是化学式为-(CH2)n-的桥连基团,其中n是选自1-10的整数,任选地第一物质中的一个或多个氮可以以季氮形式提供,其中氮带正电荷;式II的第二物质其中R8,R9,R10,R11和R12选自氢和具有1-6个碳原子的烷基,其中任选地,R8,R9,R10,R11和R12中的两种或更多种结合成环状结构,任选地,所述第二物质中的一个或多个氮可以为季氮形式,其中氮带正电荷;磨料;和水。
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