[发明专利]一种紫外组合零级波片的加工检测方法无效
| 申请号： | 201010555061.6 | 申请日： | 2010-11-22 |
| 公开（公告）号： | CN102183807A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 朱一村;郑熠;吴少凡 | 申请（专利权）人： | 福建福晶科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02B5/30 | 分类号： | G02B5/30;G01M11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 350000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种紫外组合零级波片的加工检测方法，加工零级波片的传统方法是将波片光胶在光胶板上，进行抛光测量。但是连同光胶板一起测量时，光胶板存在应力双折射、抛光过程中产生的温度影响很难消除、从而造成延迟精度误差较大，因此采用传统的方法很难得到高精度的产品。本发明采用平面度为λ/20抛光的穿孔低膨胀系数光胶板，且穿孔对称，将一部分紫外组合零级波片光胶在光胶板的通孔上，光胶板的通孔直径比紫外组合零级波片外径小，加工测试时，光通过穿孔直接入射到紫外组合零级波片上进行测试，方便循环抛光与检测，能更好的控制延迟精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 紫外 组合 零级波片 加工 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种紫外组合零级波片的加工检测方法，其特征在于紫外组合零级波片光胶在穿孔的光胶板，光胶板的双面平面度≤λ/20，测试时，光从穿孔通过，直接测试紫外组合零级波片，加工和测试循环进行，直到达到精度要求。
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