[发明专利]图形芯片设计中图形像素生成算法的硬件实现有效
申请号: | 201010555850.X | 申请日: | 2010-11-22 |
公开(公告)号: | CN102034221A | 公开(公告)日: | 2011-04-27 |
发明(设计)人: | 龙斌;陈宝民;焦永;陈宝民;陈怒兴;焦永;赵威特;龚晓;石大勇 | 申请(专利权)人: | 长沙景嘉微电子有限公司 |
主分类号: | G06T1/20 | 分类号: | G06T1/20;G06T1/60 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410205 湖南省长沙市河西*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种结构简单明快、能够快速流水完成3D绘图中所要求的像素绘制的各个功能操作的系统实现方案。它能连续的串行流水接收上级模块输入的像素横纵、深度坐标、纹理坐标以及各颜色值,连续的完成以下操作:像素的透明度(Alpha)测试:根据像素的透明度完成像素筛选;像素剪取测试:根据像素的横纵坐标筛选设定矩形框以外的像素点;像素深度测试根据像素距离屏幕的远近对像素完成筛选;像素纹理映射:根据像素的纹理坐标和设定的纹理图片完成纹理加载;以及像素帧存融合:将当前像素的颜色值与帧存中同一位置像素点颜色值的混合。 | ||
搜索关键词: | 图形 芯片 设计 像素 生成 算法 硬件 实现 | ||
【主权项】:
像素测试(筛选),其特征过程为:根据输入像素的横纵坐标(x,y)及透明度(Alpha)分量将超出绘图区或透明度过大以及过小的像素筛选(即剪取测试和Alpha测试)并将满足绘图要求的像素写入FIFO;从上级FIFO中读出像素,根据输入像素横纵坐标(xy)以及深度缓存的起始地址和行宽,读取当前深度缓存中保存的显存中已有3.点距离屏蔽的远近即当前显示像素点的深度值(z);将读取的深度值与当前输入像素的深度值比较,以判定当前像素是否覆盖当前帧存中已有的像素点(深度测试),如果当前像素通过测试,则将像素传输至权利3并将该像素的深度值(z)回写到深度缓存,将深度测试通过的像素点写入下一级FIFO。
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