[发明专利]非接触光纤型扭转参量检测装置无效
申请号: | 201010557837.8 | 申请日: | 2010-11-25 |
公开(公告)号: | CN102478404A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 杜兵 | 申请(专利权)人: | 西安金和光学科技有限公司 |
主分类号: | G01D3/028 | 分类号: | G01D3/028;G01B11/26 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人: | 谭文琰 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种非接触光纤型扭转参量检测装置,包括基板,基板上设置有检测单元,检测单元包括信号光纤、曲线型支架和磁性体,布设在的曲线型支架内部相对两侧的多个A侧变形齿和多个B侧变形齿,A侧变形齿和B侧变形齿对应布设在信号光纤的两侧,磁性体安装在曲线型支架上远离基板的一端,在磁性体一侧且与磁性体相间隔的设置有一扭杆,扭杆上同轴设置有待测物体,扭杆上设置有与磁性体相配合的永久磁铁体,信号光纤的两端分别通过延长光纤连接有测试单元,测试单元连接有处理单元。本发明传感区域中光链路是完整的,从而可以有较好的抗震动、以及防水防尘等性能,在较为恶劣的实际使用环境条件下有较好的适应能力。 | ||
搜索关键词: | 接触 光纤 扭转 参量 检测 装置 | ||
【主权项】:
非接触光纤型扭转参量检测装置,其特征在于:包括基板(20),所述基板(20)上设置有检测单元,所述检测单元包括信号光纤(33)、曲线型支架和磁性体(10),布设在所述的曲线型支架内部相对两侧的多个A侧变形齿(4‑1)和多个B侧变形齿(4‑2),所述的A侧变形齿(4‑1)和B侧变形齿(4‑2)呈交错布设,A侧变形齿(4‑1)和B侧变形齿(4‑2)对应布设在信号光纤(33)的两侧,所述曲线型支架与基板(20)大致垂直,所述磁性体(10)安装在曲线型支架上远离基板(20)的一端,在所述磁性体(10)一侧且与磁性体(10)相间隔的设置有一扭杆(12),所述扭杆(12)上同轴设置有待测物体(9),所述扭杆(12)上设置有与磁性体(10)相配合的永久磁铁体,所述磁性体(10)能在永久磁铁体的作用下使信号光纤(33)产生变形,所述信号光纤(33)的两端分别通过延长光纤(1)连接有测试单元(5),所述测试单元(5)连接有处理单元(7),所述测试单元(5)通过延长光纤(1)检测信号光纤(33)内部传输光信号功率的变化并传递给处理单元(7),处理单元(7)对测试单元(5)的数据进行处理并计算后得待测物体(9)的扭转角度、扭转速度或扭转圈数。
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