[发明专利]一种基于片上闪存的系统芯片JTAG调试控制方法有效

专利信息
申请号: 201010561701.4 申请日: 2010-11-29
公开(公告)号: CN102073009A 公开(公告)日: 2011-05-25
发明(设计)人: 严晓浪;曾健林;黄凯;葛海通 申请(专利权)人: 杭州中天微系统有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 杭州天正专利事务所有限公司 33201 代理人: 王兵;王利强
地址: 310012 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种基于片上闪存的系统芯片JTAG调试控制方法,所述JTAG通过TAP实现对边界扫描链的控制,所述TCK接口、TMS接口和TDI接口分别通过一个二选一的数据选择器来控制,数据选择器的两个输入分别为正常信号和固定的低电平或高电平,再通过系统芯片内的一个位宽为一位的寄存器REG1来控制数据选择器,当寄存器REG1的值为一时,将低电平信号连接到TCK接口、TMS接口和TDI接口上,屏蔽JTAG接口;而寄存器REG1的值为零时,将正常信号连接到TCK接口、TMS接口和TDI接口上,进入正常的调试模式;根据片上闪存的数据决定寄存器REG1的值。本发明在方便调试的同时保障数据安全、提升安全性。
搜索关键词: 一种 基于 闪存 系统 芯片 jtag 调试 控制 方法
【主权项】:
一种基于片上闪存的系统芯片JTAG调试控制方法,所述JTAG通过TAP实现对边界扫描链的控制,所述TAP接口包括TCK接口、TMS接口、TDI接口、TDO接口和TRST接口,其特征在于:所述TCK接口、TMS接口和TDI接口分别通过一个二选一的数据选择器来控制,数据选择器的两个输入分别为正常信号和固定的低电平或高电平,再通过系统芯片内的一个位宽为一位的寄存器REG1来控制数据选择器,当寄存器REG1的值为一时,将低电平信号连接到TCK接口、TMS接口和TDI接口上,屏蔽JTAG接口;而寄存器REG1的值为零时,将正常信号连接到TCK接口、TMS接口和TDI接口上,进入正常的调试模式;设置两个关键值为KEY1和KEY2,以及选定片上闪存中存放关键词的地址ADDR;所述系统芯片JTAG调试控制方法包括以下步骤:(1)、启动程序,从零地址开始取指,即进入ROM段;(2)、从片上闪存的ADDR地址读取32位数据VALUE,并将VALUE与关键值KEY1进行比较:如果VALUE与KEY1相等,则将REG1写成一,此时JTAG接口被屏蔽,并跳转到程序的起始地址;如果VALUE与KEY1不相等,则将REG1写成零,此时JTAG接口能够正常的工作,顺利进入调试模式;(3)继续将VALUE与KEY2进行比较:如果VALUE与KEY2相等,则直接跳转到程序的起始地址。
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