[发明专利]一种用于红外焦平面倒焊互连的铟柱及其制备方法有效
申请号: | 201010565090.0 | 申请日: | 2010-11-26 |
公开(公告)号: | CN102136484A | 公开(公告)日: | 2011-07-27 |
发明(设计)人: | 廖清君;马伟平;朱建妹;林春;王建新;胡晓宁 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L31/02;H01L31/18;G03F7/00;B81C1/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 20008*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于红外焦平面倒焊互连的铟柱及其制备方法。该方法在需要制备铟柱的芯片上分别进行两次旋涂光刻胶,两次单独曝光,一次显影的方法进行铟柱孔的光刻,在高真空热蒸发沉积铟层时,保证芯片处于铟蒸发源的正上方,铟层生长后采用有机试剂湿法剥离的方式获得新型铟柱阵列。采用本发明的方法可以获得底部尺寸大,顶部尺寸小,高度一致性好的铟柱阵列,可以满足小中心距焦平面探测器的铟柱阵列制备。制备的铟柱在生长过程中不会与光刻胶接触,不会由于生长中的高温铟源与光刻胶接触生成氧化铟或者将光刻胶碳化,可以采用有机试剂湿法剥离的方法去除多余的铟层,避免了多余残留物附着在铟柱表面。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 红外 平面 互连 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种用于红外焦平面倒焊互连的铟柱,其特征在于:它是一个底面和顶面为正方形的锥体,所述铟柱底面的正方形边长x为10~12微米,所述铟柱顶面的正方形边长y为5~7微米,所述铟柱的高度z为8~12微米。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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