[发明专利]测距方法及测距系统

摘要

本发明提供一种测距系统，其包括光源模组、影像获取装置和处理模组。光源模组会向至少一第一和一第二平面，以及一待测物投射具有一斑点图样。另外，影像获取装置则获取第一平面和第二平面上所呈现之斑点图样的影像，并且获取待测物的一個表面所呈现的斑点图样的影像，而产生第一和第二参考影像信息，以及待测物影像信息。而处理模组则是依据第一和第二参考影像信息，来计算斑点图样中每一斑点的位移向量。由此，处理模组依据待测物影像信息中每一斑点的位置和对应的位移向量，而计算出待测物与第一平面或第二平面的相对距离。在上述测距系统中，只需要用到较少的平面，可以有效地简化软件的处理程序。本发明还提供一种测距方法。

主权项

一种测距系统，其特征是包括：一个光源模组，向至少一个第一平面和一个第二平面投射具有一斑点图样的面光源，并向一个待测物投射该面光源，使得该第一平面、该第二平面和该待测物朝向该光源模组的表面呈现该斑点图样的影像，其中该斑点图样具有多个斑点；一个影像获取装置，获取该第一平面和该第二平面上所呈现的斑点图样的影像，而产生第一参考影像信息和第二参考影像信息，并获取该待测物朝向该光源模组的表面所呈现的斑点图样的影像，而产生待测物影像信息；以及一个处理模组，耦接该影像获取装置，并取得该第一参考影像信息和该第二参考影像信息，以计算每一该多个斑点的位移向量，且该处理模组还将该待测物影像信息与该第一参考影像信息和该第二参考影像信息二者其中之一比对，以获得每一该多个斑点在该待测物影像信息中的位移信息，再依据对应的位移向量而计算出该待测物与该第一平面或该第二平面的相对距离，其中各该斑点的位移向量，指的是每一该多个斑点分别在该第一平面和该第二平面上的位置的变化量。