[发明专利]光学平台的形成方法有效
申请号: | 201010568274.2 | 申请日: | 2010-11-30 |
公开(公告)号: | CN102479890A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 李凡;张海洋 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/58 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 骆苏华 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种光学平台的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底具有相对的上表面和下表面;使用干法刻蚀,在所述半导体衬底的上表面形成凹槽,在所述凹槽底部的半导体衬底中形成通孔,所述通孔贯穿所述半导体衬底;对所述半导体衬底进行氧化,在所述半导体衬底的上表面、下表面和侧壁,以及所述凹槽和通孔的表面形成氧化膜;形成金属层,覆盖所述半导体衬底的上表面、下表面的氧化膜,以及所述凹槽和通孔表面的氧化膜。本发明工艺较为简单,便于工业应用,而且可控性较强。 | ||
搜索关键词: | 光学 平台 形成 方法 | ||
【主权项】:
一种光学平台的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底具有相对的上表面和下表面;使用干法刻蚀对所述半导体衬底的上表面进行刻蚀,在所述半导体衬底的上表面形成凹槽,在所述凹槽底部的半导体衬底中形成通孔,所述通孔贯穿所述半导体衬底;对所述半导体衬底进行氧化,在所述半导体衬底的上表面、下表面和侧壁,以及所述凹槽和通孔的表面形成氧化膜;形成金属层,覆盖所述半导体衬底的上表面、下表面的氧化膜,以及所述凹槽和通孔表面的氧化膜。
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