[发明专利]光学平台的形成方法有效

专利信息
申请号: 201010568274.2 申请日: 2010-11-30
公开(公告)号: CN102479890A 公开(公告)日: 2012-05-30
发明(设计)人: 李凡;张海洋 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00;H01L33/58
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆苏华
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种光学平台的形成方法,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底具有相对的上表面和下表面;使用干法刻蚀,在所述半导体衬底的上表面形成凹槽,在所述凹槽底部的半导体衬底中形成通孔,所述通孔贯穿所述半导体衬底;对所述半导体衬底进行氧化,在所述半导体衬底的上表面、下表面和侧壁,以及所述凹槽和通孔的表面形成氧化膜;形成金属层,覆盖所述半导体衬底的上表面、下表面的氧化膜,以及所述凹槽和通孔表面的氧化膜。本发明工艺较为简单,便于工业应用,而且可控性较强。
搜索关键词: 光学 平台 形成 方法
【主权项】:
一种光学平台的形成方法,其特征在于,包括:提供半导体衬底,所述半导体衬底具有相对的上表面和下表面;使用干法刻蚀对所述半导体衬底的上表面进行刻蚀,在所述半导体衬底的上表面形成凹槽,在所述凹槽底部的半导体衬底中形成通孔,所述通孔贯穿所述半导体衬底;对所述半导体衬底进行氧化,在所述半导体衬底的上表面、下表面和侧壁,以及所述凹槽和通孔的表面形成氧化膜;形成金属层,覆盖所述半导体衬底的上表面、下表面的氧化膜,以及所述凹槽和通孔表面的氧化膜。
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