[发明专利]图像分析系统及方法

摘要

本发明提供一种图像分析系统。该系统提取参考图及待测图中的特征点，根据特征点的特征信息确参考图及待测图的特征点对，并根据特征点对构建两个矩阵，再根据该两个矩阵计算映射矩阵。该系统还根据参考图的基准点及映射矩阵确定各待测图中的匹配点。之后，该系统根据基准点确定参考图中的参考区域，根据匹配点确定待测图中的匹配区域，将匹配区域与参考区域比较、查找匹配区域中的差异点，以定位电路板上的设计不良位置。本发明还提供一种图像分析方法。

主权项

一种图像分析系统，应用于计算装置，该计算装置与工业相机相连接，工业相机扫描待测电路板得到待测图，其特征在于，该系统包括：信息读取模块，用于从存储器读取符合电路板设计规范的参考图及所述待测图；特征点提取模块，用于利用数学算法提取参考图及待测图中的特征点及各特征点附加的特征信息，并根据特征信息确定参考图及待测图的特征点对；矩阵构建模块，用于根据所述特征点对构建两个1*n矩阵，并根据该两个1*n矩阵计算得到映射矩阵；信息读取模块，还用于读取参考图中各基准点的坐标；匹配点确定模块，用于根据各基准点的坐标及映射矩阵确定各基准点在待测图中的对应点的坐标，并判断是否所有对应点均落入待测图中，若所有对应点均落入待测图中，则以各对应点为参考图中基准点在待测图中的匹配点，若有对应点落入待测图之外，则移动该对应点至待测图中，并将参考图中与该对应点匹配的基准点作与该对应点相同的位移操作，移动后得到的对应点为参考图中相应基准点在待测图中的匹配点；及比较模块，用于根据基准点确定参考图的参考区域，根据匹配点确定待测图的匹配区域，并将匹配区域与参考区域进行比较，查找匹配区域中的差异点，以定位电路板上的设计不良位置。