[发明专利]CT系统的散射校正方法及CT系统有效
| 申请号： | 201010574162.8 | 申请日： | 2010-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN101987021A | 公开（公告）日： | 2011-03-23 |
| 发明（设计）人： | 胡战利;夏丹;桂建保;邹晶;戎军艳;张其阳;郑海荣 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种CT系统的散射校正方法，包括以下步骤：获取亮场图像；将散射校正器放置于被扫描物体与探测器之间，进行等角度圆周扫描得到衰减投影图像；分别对被扫描物体和散射校正器进行等角度圆周扫描得到投影图像集和散射校正图像；根据所述亮场图像、散射校正图像以及衰减投影图像生成散射强度分布图；通过所述投影图像集与散射强度分布图之差得到校正后的投影图像集。上述CT系统的散射校正方法及CT系统中，通过将散射校正器置于被扫描物体与探测器之间来消除散射的影响，大大地减少了扫描时间和处理的数据量，有效地提高了效率和精度。 | ||
| 搜索关键词： | ct 系统 散射 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种CT系统的散射校正方法，包括以下步骤：获取亮场图像；将散射校正器放置于被扫描物体与探测器之间，进行等角度圆周扫描得到衰减投影图像；分别对被扫描物体和散射校正器进行等角度圆周扫描得到投影图像集和散射校正图像；根据所述亮场图像、散射校正图像以及衰减投影图像生成散射强度分布图；通过所述投影图像集与散射强度分布图之差得到校正后的投影图像集。
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