[发明专利]伪造印文的检验方法以及记录介质有效
申请号: | 201010576485.0 | 申请日: | 2010-11-25 |
公开(公告)号: | CN102194125A | 公开(公告)日: | 2011-09-21 |
发明(设计)人: | 李仲;李永洙;金俊奭;文基雄;朴昞旭 | 申请(专利权)人: | 大韩民国(管理部署:行政安全部国立科学搜查研究院长) |
主分类号: | G06K9/62 | 分类号: | G06K9/62 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 张欣 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及伪造印文的检验方法,具体而言,通过原件印章生成(ST-110)基准印文的生成阶段(ST-101);对比上述生成阶段(ST-101)生成的基准印文和比较印文,运算(ST-140)比较印文对基准印文的特性值的运算阶段(ST-121)组成。通过实验结果,不仅可以识别蚀刻在锌板或树脂板仿造的印章盖印的伪造印文,还可以识别通过计算机仿刻方法仿造的印章盖印的伪造印文。在各类刑事和民事案件中,判断文件上所盖印印文的伪造与否时提供客观的依据,有效防止肉眼或显微镜下观察时可能出现的错误。 | ||
搜索关键词: | 伪造 检验 方法 以及 记录 介质 | ||
【主权项】:
一种伪造印文的检验方法,其特征在于,从原件印章生成(ST‑110)基准印文,通过原件印章生成(ST‑120)对比印文的生成阶段(ST‑101);对上述生成阶段(ST‑101)生成的基准印文和对比印文进行比较,运算(ST‑130)对比印文对基准印文的特性值,对比基准印文和比较印文运算(ST‑140)比较对基准印文的特性值的运算阶段(ST‑121);在上述运算阶段(ST‑121)对比基准印文和对比印文取得的特性值和,对比基准印文和比较印文获得的特性值进行比较的阶段(ST‑150)构成。
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