[发明专利]集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法无效
申请号: | 201010579154.2 | 申请日: | 2010-12-08 |
公开(公告)号: | CN102560771A | 公开(公告)日: | 2012-07-11 |
发明(设计)人: | 李伟;胡新立;郭康;周玉洁;邢欣 | 申请(专利权)人: | 天津纺织工程研究院有限公司 |
主分类号: | D01H13/32 | 分类号: | D01H13/32;D01H5/72 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300308 天津市空港*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法,该方法的原理是用一束光强为I0的匀强平行光,通过一垂直放置的光栅,通光面积为S,则通过光栅的光通量为ф0,则ф0=I0×S,以ф0为基准;当光栅后放置一个空隙率为K的网格圈,则通过光栅的光通量ф=I×S;则光通量ф与基准光通量ф0的比为网格圈的空隙率K,即K=ф/ф0,这样可直接测得网格圈的空隙率。本发明的有益效果是:该检测方法采用光通量比较法测量网格圈空隙率,影响因素小,测量快捷方便,测量精度高,不破坏网格圈,是一种切实可行的方法。该方法的提出,为网格圈制造企业和使用企业提供了一个有效的检测方法,为产品质量的提高提供了依据。 | ||
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【主权项】:
一种集聚纺纱用网格圈空隙率测试方法,其特征在于:该方法的原理是用一束光强为I0的匀强平行光,通过一垂直放置的光栅,通光面积为S,则通过光栅的光通量为ф0,则ф0=I0×S,以ф0为基准;当光栅后放置一个空隙率为K的网格圈,则通过光栅的光通量ф=I×S;则光通量ф与基准光通量ф0的比为网格圈的空隙率K,即K=ф/ф0,这样可直接测得网格圈的空隙率。
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