[发明专利]倒角基板布线方法有效
申请号: | 201010585290.2 | 申请日: | 2010-12-10 |
公开(公告)号: | CN102136413A | 公开(公告)日: | 2011-07-27 |
发明(设计)人: | 沃尔特·瓦岑贝格;阿齐兹·哈拉米-艾蒂里斯;亚历山大·切布克;塞巴斯蒂安·凯尔迪勒 | 申请(专利权)人: | 硅绝缘体技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/311;H01L21/3065;H01L21/762 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 党晓林;王小东 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 本发明涉及一种倒角基板布线方法。该方法重要是包括以下步骤,这些步骤包括:借助于等离子体在所述基板(4)的外周环形区(400)上淀积一层保护材料(6);借助于等离子体部分地蚀刻所述保护材料(6),以便在待布线的所述基板(4)的正面(41)上保留保护材料环(60),该环(60)距所述基板的边缘(43)一定距离延伸,并由此界定可到达的外周环形区(400’);借助于在所述可到达的外周环形区(400’)上的等离子体对构成待布线的所述基板(4)的材料蚀刻一定厚度;借助于等离子体移除所述保护材料环(60)。本发明还涉及在电子学、光学或者光电子学领域中的应用。 | ||
搜索关键词: | 倒角 布线 方法 | ||
【主权项】:
一种倒角基板(4)布线方法,其特征在于,该方法包括以下步骤,这些步骤包括:‑借助于等离子体在所述基板(4)的外周环形区(400)上淀积一层保护材料(6);‑借助于等离子体部分地蚀刻所述保护材料(6),以便在待布线的所述基板(4)的正面(41)上保留保护材料环(60),该环(60)距所述基板的边缘(43)一定距离延伸,并由此界定所述基板的缩小的外周环形区(400’),等离子体可到达该缩小的外周环形区;‑产生部分蚀刻等离子体,该部分蚀刻等离子体被局限在可到达的所述缩小的外周环形区(400’)上,以便对该区中存在的材料蚀刻一定厚度;‑借助于等离子体移除所述保护材料环(60)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造