[发明专利]射频信号测试连接结构及射频信号测试优化方法无效
| 申请号： | 201010585697.5 | 申请日： | 2010-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN102013930A | 公开（公告）日： | 2011-04-13 |
| 发明（设计）人： | 曹生法;王浩 | 申请（专利权）人： | 上海市共进通信技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁;郑暄 |
| 地址： | 200235 上海市徐*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种射频信号测试连接结构，包括射频测试仪器，其中被测试产品上设置有射频信号测试点，射频测试仪器通过射频电缆与一探针式射频头连接，探针式射频头的端部探针与射频信号测试点接触连接。本发明还涉及一种基于该测试连接结构实现射频信号测试优化的方法。采用该种射频信号测试连接结构及射频信号测试优化方法，测试点大小与使用的探针射频头匹配，测试硬件连接方式为：测试仪器RF输出端口+射频电缆+探针式射频头+产品射频信号测试点，节约了产品BOM中天线连接器成本，探针式射频头不易损耗，减少了测试成本，固定于夹具进行测试，提高了测试直通率，测试效率高，结构简单，操作快捷方便，工作性能稳定可靠，适用范围较为广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 信号 测试 连接 结构 优化 方法 | ||
【主权项】：
一种射频信号测试连接结构，包括射频测试仪器，其特征在于，被测试产品上设置有射频信号测试点，所述的射频测试仪器通过射频电缆与一探针式射频头相连接，所述的探针式射频头的端部探针与所述的射频信号测试点相接触连接。
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