[发明专利]逻辑内建自测试系统有效
| 申请号： | 201010587164.0 | 申请日： | 2010-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN102565685A | 公开（公告）日： | 2012-07-11 |
| 发明（设计）人： | 唐飞 | 申请（专利权）人： | 苏州工业园区谱芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人： | 杨林洁 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种逻辑内建自测试系统，包括：测试向量生成系统及与测试向量生成系统相连的测试机，所述测试机用以与被测电路连接在一起，所述测试向量生成系统包括测试软件服务器及可以登陆装有该测试软件服务器的操作界面，通过操作操作界面可以启动测试软件进而生成逻辑内建自测试向量；所述测试软件服务器与测试机通过网络相连，并且生成的逻辑内建自测试向量通过该网络被移植到测试机上，从而克服了空间上的局限，优化了测试资源，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 逻辑 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种逻辑内建自测试系统，包括：测试向量生成系统及与测试向量生成系统相连的测试机，所述测试机用以与被测电路连接在一起，其特征在于:所述测试向量生成系统包括测试软件服务器及可以登陆装有该测试软件服务器的操作界面，通过操作操作界面可以启动测试软件进而生成逻辑内建自测试向量；所述测试软件服务器与测试机通过网络相连，并且生成的逻辑内建自测试向量通过该网络被移植到测试机上。
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